DRE - Dr.Riss Ellipsometerbau GmbH

DRE-Dr. Riss Ellipsometerbau GmbH fue fundada en el año 1989. Estamos desarrollando y produciendo instrumentos para mediciones de película delgada en el rango de espesores entre 0.000001 nm hasta 10 micras. En 1995, la empresa fue galardonada con el premio tecnológico Schmidt-Römhild por el desarrollo del primer elipsómetro submonocapa.

Las leyes físicas en el rango de subcapa son diferentes de las de las capas continuas. Por eso hemos desarrollado una física de simulación especial basada en las ecuaciones de Maxwell que es capaz de describir el proceso de unión molecular muy bien.

DRE también fabrica instrumentos definidos por el cliente para la investigación y la producción. Ejemplos de ello son los pronósticos de vida útil de los hilos de unión de los chips semiconductores, la medición en proceso del recubrimiento de tejas o el análisis de polarización de los pulsos pico y femtosegundos polarizados elípticos de repetición corta.